【AMNews讯】全球3D扫描解决方案领军企业Artec 3D今日宣布推出Artec Studio 20.3更新版本，为专业3D数据采集与处理用户带来多项关键升级，包括与工业计量软件PolyWorks Inspector的深度集成，以及AI摄影测量功能的重大改进。
此次更新是Artec Studio与PolyWorks Inspector的兼容性提升。通过与Innovmetric达成的新合作，用户可将网格模型、点云及CAD基元直接导出至PolyWorks进行分析，利用其内置的ISO与ASME标准GD&T工具，实现更精准的测量与公差检测，大幅提升工业检测效率。
在硬件支持方面，Artec Spider II的扫描减面功能获得优化，用户可降低每帧点云数量，确保仅采集必要数据，显著加快处理速度。同时，Ray II新增全景功能，支持导出全景图像与扫描点位绑定的E57格式数据，为大规模测量场景提供关键场景信息，增强与AEC软件的兼容性。
AI摄影测量功能是本次更新的另一大亮点。20.3版本引入无掩膜模式，消除了此前对物体需始终完整处于取景框的限制，使新手用户也能轻松获得高质量3D模型。该功能提供两种算法：无掩膜模式适用于近距离捕获中小型物体，有掩膜模式则适用于需要翻转的物体。
此外，纹理处理流程获得显著优化，支持16位纹理，新增对NVIDIA 50xx系列显卡的兼容性，并统一了Pro版、Lite版及试用版的主界面设计，提升用户体验。
Artec 3D表示，此次更新将为逆向工程、医疗卫生、媒体设计、时尚娱乐、文物保护及安全技术等多领域用户提供更高效、更直观的3D数据处理体验。作为3D扫描技术的持续创新者，Artec 3D再次证明了其在3D数据采集与处理领域的领导地位。
